環(huán)境模擬測(cè)試系統(tǒng)適用于航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。鹽霧造用于零部件、電子元件、金屬材料的防護(hù)層以及工業(yè)產(chǎn)品的鹽霧腐蝕試驗(yàn)。 

 環(huán)境模擬測(cè)試系統(tǒng)箱體結(jié)構(gòu)
※環(huán)境模擬測(cè)試系統(tǒng)外殼采用SUS304不銹鋼板數(shù)控機(jī)床加工成型，光潔、美觀。
※內(nèi)膽為進(jìn)口SUS316不銹鋼板。
※加熱為內(nèi)膽水槽式加熱和空氣循環(huán)式加熱兩種方式升溫快，溫度分布均勻
※所有鹽霧試驗(yàn)的配件均為耐腐蝕、耐高溫型
※超大鹽水箱有預(yù)熱功能，可連續(xù)噴霧72小時(shí)不用補(bǔ)充鹽水和飽和器用水
※箱蓋與鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱共用
※觀察窗采用多層中空鋼化玻璃
※測(cè)試孔可接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用
※試驗(yàn)箱內(nèi)可單獨(dú)做鹽霧試驗(yàn)和恒溫恒濕試驗(yàn)，有轉(zhuǎn)換功能，互不干擾
※還可在箱內(nèi)放置適當(dāng)尺寸液體浸泡槽
※高溫箱到鹽霧箱之間的轉(zhuǎn)換時(shí)間為10秒左右
※環(huán)境模擬測(cè)試系統(tǒng)溫度恢復(fù)時(shí)間小于5分鐘
 
環(huán)境模擬測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)
※溫度范圍：35℃～55℃
※濕度范圍：95～98%RH
※空氣飽和器：RT＋10℃～60℃
※溫度均勻度：±2℃
※溫度波動(dòng)度：±0.5℃
※鹽霧沉降量：1～2ml/80cm2.h

環(huán)境模擬測(cè)試系統(tǒng)控制系統(tǒng)
※環(huán)境模擬測(cè)試系統(tǒng)試驗(yàn)箱智能型P . I . D溫濕度控儀
※薄膜式 KEY BOARD按鍵
※具有斷電記憶功能，復(fù)電時(shí)可繼續(xù)剩余試驗(yàn)過程
※溫度控制均采用P . I . D ＋S . S . R,系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制,可提高控制元件與界面使用之穩(wěn)定性及壽命
※觸控式設(shè)定、數(shù)位及直接顯示
※具有P . I . D 自動(dòng)演算之功能，可減少人為設(shè)定時(shí)帶來之不便
※在運(yùn)轉(zhuǎn)或設(shè)定中如發(fā)生錯(cuò)誤時(shí)，會(huì)提供警示迅號(hào)
※停電記錄裝置五年
※感溫傳感器：PT100鉑金電阻測(cè)溫體
※鹽霧在噴霧完成或轉(zhuǎn)換其它模式時(shí)自動(dòng)排霧
 符合標(biāo)準(zhǔn)：本產(chǎn)品按GB/2423.17-2008、《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 KC：鹽霧試驗(yàn)方法》GB/2423.1-2008、《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 A：高溫試驗(yàn)方法》GB/2423.3-2006、《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 恒溫恒濕試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)

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